电子背散射衍射（EBSD）使用SEM的电子束，可以以纳米级的角度观察材料的微观结构，从而洞悉疲劳，断裂强度，耐腐蚀性，蠕变，延展性和硬度等关键特性。

EAG继续添加新的分析功能，以帮助需要颗粒分析的客户更好地识别和测量广泛的颗粒分散体。 汽车，航空航天和半导体制造商可以依靠EAG的科学专业知识来使用此新功能提供全面的报告。

EAG SMART（光谱学和显微镜分析分辨率工具）图表为比较分析技术提供了简明的视觉参考。 轻松比较用于材料表征，评估表面分析，纯度调查等的数十种技术的检测限和分析分辨率！