此外,新实验室扩展了EAG Shanghai的二次离子质谱(SIMS)功能。 SIMS是一种非常强大的技术,可用于掺杂剂表征,污染测量,介电膜分析等。我们安装了新的PHI ADEPT 1010 SIMS工具,该工具针对半导体,薄膜和体绝缘子的高深度分辨率分析进行了优化。应用范围从硅中的超低能离子注入到化合物半导体中的掺杂剂,栅极电介质到玻璃表面腐蚀。

EAG实验室致力于使用最先进的仪器,通过训练有素的合格人员,在提供技术卓越的分析中保持最高的质量标准。通过我们的新设施和网络可以使用的其他技术包括GDMS,RBS / HFS,TXRF,XRD / XRR,AES,SEM,EDX等。

请联系+ 86-21- 68796088总经理Rakesh Kumar,以获取有关新设施和服务查询的信息。

普和广场

江开路177号。闵行区

上海

关于EAG实验室

当要了解先进材料和集成电路的物理结构,化学性质和性能时,没有其他科学服务公司可以提供丰富的经验,丰富的分析技术和EAG实验室的技术独创性。我们提供多学科,解决问题的专业知识,以帮助我们的客户加速创新,确保质量和安全并保护知识产权

To enable certain features and improve your experience with us, this site stores cookies on your computer. Please click Continue to provide your authorization and permanently remove this message.

To find out more, please see our privacy policy.