TLP(传输线脉冲测试)

传输线脉冲测试(TLP测试)用于静电释放保护结构物的半导体表征。在传输线脉冲测试中,高电流脉冲以逐渐升高的电平通过规定长度的共轴电缆施加到被测的引线上。施加的脉冲的电流幅度和持续时间是人体模型事件(或者如果是非常快速的TLP测试(VF-TLP),充电装置模型CDM事件)的典型电流幅度和持续时间。对事件和反映脉冲进行评估,得出一条电压-电流(V-I)曲线,曲线描述了ESD保护结构物对施加的TLP应力的反应。传输线脉冲测试是独一无二的,因为电流脉冲可以高达几安培,TLP测试结果可以表明ESD保护装置的开启、急变返回和保持特征。

传输线脉冲测试有两个非常重要的用途。第一,TLP测试可以用来表征新工艺技术和知识产权的测试芯片的输入/输出pad cell。TLP可以有效地开发模拟参数,以及用于实施针对创新pad cell设计的不同ESD保护方案的相对优点定性比较。 其次,TLP可以用作电气失效分析工具,往往与常规的标准化组件ESD测试相结合。

传输线脉冲测试按照ESDA TLP测试方法ESDA SP5.5-2003实施,.这种测试测试根据具体项目以及任务说明书、实现实际测试所需的估算工程时间以及客户的报告要求而报价。

适用的传输线脉冲测试规格

  • ESDA SP5.5-2003 (ESD协会)