SIMS理论

 

简介

使用一次离子束轰击样品表面,接着发射二次离子的质谱,构成二次离子质谱(SIMS)。

最佳的SIMS参考书目是二次离子质谱法:基本概念、仪器层面、应用和趋势,作者:A. Benninghoven, F. G. Rüdenauer, and H. W. Werner, Wiley,纽约, 1987 (1227 )