SIMS理论:质谱

样品二次离子质谱是通过在预选的质量范围内连续监测离子讯号,扫描范围内的荷质比(m/z)。质量分析器可以是磁场分析器或者四极矩。质谱会侦测原子和分子离子。在SIMS中,包含一个以上原子的二次离子被称为分子离子。值得注意的是,在有机质谱分析中的术语分子离子,是指还未产生任何分裂之前的母离子。质量分析器必须以小步骤进行扫描,以确保对所有的荷质比(m/z)进行取样。对于每个质量单位来说,十个步骤是很平常的。较高的质量分辨率,每个峰值宽度有10个质量增进足以界定峰值形状。质谱为100的质谱范围内至少具有1000个数据信道,其中合理的分析时间为0.1 /通道。下图显示了飞煤灰粒子压缩后的质谱。此质谱清晰地显示了Li, Be, B, C, O, Na, Mg, Al, Si, K, Ca, Ti, Fe, Zr, Ba, Pb, Th, U等元素。值得注意的分子离子包括m/z64, 72, 154, 248 254条件下的TiO, FeO, BaO, ThO UO。离子强度会反映这些元素的同位素含量。例如,在m/z 28, 2930条件下的硅同位素强度和相应的硅天然含量92.2 : 4.7 : 3.1平行。注意m/z 20为双电荷的Ca++

次级离子质谱法理论:质量光谱