LA-ICP-MS(激光刻蚀-电感耦合等离子质谱)

激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法

在LA-ICP-MS(激光剥蚀-感应耦合电浆质谱)中,样品通过用脉冲激光束烧蚀后直接进行分析。产生的气雾质被输送到电感耦合氩电浆(ICP)的核心,产生约8000°C的温度。ICP–MS中的电浆被用于产生离子,然后引入到质量分析器。根据荷质比,将离子分离收集,就可以测量并确定未知样品的成分。ICP–MS对于元素具有极高的灵敏度。

对于雷射剥蚀法,任何类型的固体样品都可以被烧蚀进行分析;没有样品的尺寸要求且无样品制备程序。使用雷射剥蚀的化学分析所需的样品量(μg)比溶液雾化(mg)还小。这种分析技术仅需非常少量的样品量。此外,聚焦的雷射束对固体样品中异质性的空间特性可以辨别分析,通常横向和深度两方面的分辨率皆为μm。

对于利用GDMSIGAICP-OESLA-ICP-MS分析进行痕量元素分析来说:

EAG(纽约)--样品送件表(英文,pdf)
EAG SAS(法国)--样品送件表(英文,pdf)
EAG SAS(法国)--样品送件表(法文,pdf)

  • 导体、半导体和非导体材料的主要、次级和痕量成分分析
  • 塑料、制药有机或者生物材料的污染物
  • 失效、污染物和夹杂物分析
  • 取证分析
  • 环境和矿物样品分析
  • 元素分布分析

侦测讯号: 离子

侦测元素种类:最多70种元素

侦测限制条件:ppb

深度分辨率:~1 µm

横向分辨率-光点直径: 4 - 100μm

  • 对固体的元素组成,直接在表面和块材取样进行多元素的定量或半定量
  • 溶解时无化学反应
  • 分析物损失或者交叉污染的风险降低
  • 样品几何形状独立
  • 可以分析非常小的样品
  • 测量元素组成的空间分布
  • 主要基质元素和其他的分子种类会干涉某些元素的测定,一些双电荷或者分子离子种类会造成定量上的困难
  • 玻璃和陶瓷
  • 鉴识
  • 半导体生产制造
  • 地质
  • 故障分析