SIMS理论:同位素比值测定

同位素比值测量操作上类似于深度分析,只是精确度和准确度的要求会更高。因为所有元素的同位素都具有同样的化学性质,不同同位素的离子化和侦测效率基本上保持几乎恒定。0.1%的精确度是最常见的,其准确度接近精确度。误差分析表明,精确度主要是受到Poisson计数统计的限制。为了达到上述精确度,SIMS仪器必须进行谨慎调整,消除干扰因素。质谱峰应当具有平顶和陡峭的边,这样微小的磁铁不稳定性不会改变离子讯号强度。该图显示了必要的平顶峰和用于消除在m/z 32 O2干扰的高质量分辨率。在测量准确的34S/32S同位素比值来说,这两种方法都是必要的。

次级离子质谱法理论:同位素比测定

同位素讯号强度的比值必须要在不同的质量进行侦测效率细微变化的校正,并依赖讯号强度的微小变化。这些校正通常要比预期的同位素范围更大些。