ICP-OES/MS(电感耦合等离子发射光谱/质谱)

ICP(感应耦合电浆)分析技术可以定量测量材料的元素含量,范围为pptwt%只有C, H, O, N和卤素不适用ICP测量。

固体样品会被溶解或者消化在液体中,通常是酸性水溶液。

将样品溶液喷入感应耦合电浆的核心中,电浆温度高达8000°C,在这样的高温下,所有的分析物种都会被原子化、离子化和热激发,然后它们可以被OES或MS侦测和定量。

ICP-OES vs ICP-MS: 两种技术的比较

感应耦合等离子体发射光谱/质量光谱测定分析法

 

 

ICP-OES可以测量从热激发分析离子的特定元素特性波长发射的光。这种发射光可以在分光计中分离和测量强度,通过和校正标准品进行比对,转换为元素浓度。

 

 

 

 

 

感应耦合等离子体发射光谱/质量光谱测定分析法 

 

ICP-MS可以测量由高温氩离子电浆产生的元素离子质量。在电浆中产生的离子依据其荷质比分离,使未知材料可以被识别和定量。ICP-MS可以对各种不同的元素提供极高的灵敏度(即低侦测极限)。

 

 

 

 

 

应用范围

  • 大量、微量和痕量元素的块材定量调查分析
  • 对于各种不同材料的大量和微量元素的高准确度测定
  • 质量控制和制程控制

分析规格

  • 侦测讯号:光子(OES)或者离子(MS)
  • 侦测元素:最多70种元素
  • 侦测限制条件:ppb
  • 深度分辨率:块材技术
  • 影像/mapping:否

优点

  • 使用单一分析方法可以测定许多元素(最多70种)。
  • 有用的工作范围为几个数量级
  • 可以自动化测量,进而提高准确度、精确度和产量。
  • 将ICP-OES和ICP-MS结合起来是测量广泛元素的浓度是非常有效的分析技术,在测量主要成分可以达到非常低的程度(通常是~ppb),同时具有高准确度和高精确度。

技术限制

  • 为了分析感兴趣的元素,在进行分析之前,必须要将分析的样品完全消解。
  • 如果感兴趣的波长非常接近其他元素的波长,发射光谱就变得非常复杂,而且可能会有元素干扰。
  • 在质谱中,主要的基质元素以及其他的分子种类会干涉某些元素的测量。
  • 带有多电子或多原子的离子种类会造成定量上的困难。

产业应用

  • 航天工业
  • 溅射靶
  • 化学品
  • 合金生产商
  • 食品/饮料
  • 地质
  • 制药
  • 环境水、废水和处理水