成分分析

成份分析主要是用于确认材料或者薄膜的成份以及主要组成的含量。

选择分析方式的技巧主要取决于以下几个因素:

  • 关于样品我们已经了解多少?
  • 什么样的信息需要进行量化(主要元素、微量元素、化学成份或者分子构成等等)?
  • 是否需要表面分析、块材分析或者薄层分析?

表面分析

最好使用浅层深度(<100Å)信息的量化技术来对元素和化学表面成份进行测量,例如Auger电子光谱或者X-射线光电子光谱。

块材分析

最好是使用忽略表面成份变化并且带有较大/较深信息的技术来确定块材成分,通常在这些方法中找不到具体的深度信息。X射线荧光分析(XRF)和感应耦合电浆原子发射光谱(ICP-OES)是可以同时定量主要元素成分和微量元素成分中最具相关性的技术。

薄层分析