Auger理论

简介

Auger电子能谱(AES)可以通过测量Auger电子的能量来鉴定表面的元素组成。通过用电子束轰击样品来激发Auger电子发射。Auger电子能量是电子所带来的元素特性。AES在表面、薄膜和界面分析中是广泛使用的方法。

尽管这两种方法都已经过时,但是有两个良好的参考文献:

  • Photoelectron and Auger Spectroscopy, T. A. Carlson (Plenum Press, New York, 1975)
  • Methods of Surface Analysis, A. W. Czanderna, ed. (Elsevier, New York, 1975)